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X射线微焦点电子元件检测系统

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微焦点实时成像检测系统

丹东华日理学电气股份9号彩票(简称HRE)自主研发的微焦点X射线源,技术指标已经达到国际同类产品水平。微焦开放式射线源配合数字平板探测器组成的X射线微焦成像检测系统,可以得到高分辨率的数字图像。将图像效果呈现出了高放大倍率及高分辨率,特别适合检测小工件或微小缺陷。如电子元器件,半导体,电池,医疗器具,塑料产品等等。HRE公司根据市场应用开发出的针对行业检测的系统,如PCB板检测系统,电池检测系统等,通过软件操作实现缺陷检测,并可对缺陷进行自动的判别,精确的测量等。随着计算机技术的发展,微焦射线源被用于了计算机断层扫描技术中,形成了微焦的高分辨率的工业CT系统。HRE公司采用了高稳定性的机械系统为基础的设计,配合控制软件自动化操作和图像软件的高效分析,为用户体验到检测更加全面,操作更加简便的检测系统。

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